燕山大学 已有样品
更新于2024-08-28 16:14:36
本发明涉及一种光子晶体光纤端面结构特征提取方法,其包括以下步骤:获取原始端面图,对图像进行灰度化处理获得灰度图;对灰度图进行滤波处理获得滤波后平滑图像;对滤波后平滑图像进行阈值化处理获得二值化图像;利用边缘提取算法对二值化图像进行边缘提取获得光纤建模图像。判断光纤建模图像是否合格。本发明的方法适用于具有任意气孔分布和任意噪声叠加情况下的光子晶体光纤端面结构特征的提取,不受光纤端面图拍照效果的影响,能够快速有效的完成光纤端面提取,并保证提取的光纤端面的结果特征与原始光纤的结构特征一致,获得与实际光纤结构一致的光纤建模图像。