成果简介
- 新技术
一种在透射电子显微镜下快速精确测量小角晶界取向差的方法，其步骤为：采用透射电子显微镜双倾杆倾转样品，使得坐标系Ⅰ中晶粒Ⅰ的晶带轴处在正带轴位置，并采集晶粒Ⅰ此时的会聚束电子衍射花样；保持透射电子显微镜的相机常数L和会聚束衍射条件的参数不变，采集坐标系Ⅱ中晶粒Ⅱ的会聚束电子衍射花样；使用软件叠加所采集晶粒Ⅰ的菊池花样和晶粒Ⅱ的菊池花样；测量晶粒Ⅰ的菊池极与晶粒Ⅱ的菊池极的距离s，以及晶粒Ⅱ的菊池极相对晶粒Ⅰ的菊池极垂直于图面的转角γ；计算θ角，根据菊池线的几何特性，θ＝arctan(s/L)＝s/L；采用公式(6)cosΘ＝(cosγ+cosγcosθ+cosθ‑1)/2计算晶粒Ⅰ与晶粒Ⅱ的取向差。本发明不需要加装硬件和软件，可使用普通透射电子显微镜测量取向差。
该公司的其他成果
